[发明专利]微纳米三维接触扫描测量探头有效

专利信息
申请号: 201210005654.4 申请日: 2012-01-10
公开(公告)号: CN102589423A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 范光照;苗晋伟;李瑞君;龚伟;张友良;王志伟;张晴 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/245
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种微纳米三维接触扫描测量探头,其特征是设置一测头单元是在一固定圆环的中央设置三臂悬浮片,在三臂悬浮片的各悬臂的臂端连接有悬臂簧片,各悬臂簧片的另一端与固定圆环相连接,形成三臂悬浮片在固定圆环中的悬浮结构;在三臂悬浮片一侧的中央位置处设置敏感元件测量反射镜,另一侧安装带有红宝石测球的测杆;设置一测量单元用于感测敏感元件测量反射镜的位移和二维角度。本发明能获得大量程、高精度、高灵敏度和小测力的探测效果。
搜索关键词: 纳米 三维 接触 扫描 测量 探头
【主权项】:
微纳米三维接触扫描测量探头,其特征是设置:一测头单元:在一固定圆环(24)的中央设置三臂悬浮片(10),在所述三臂悬浮片(10)的各悬臂的臂端连接有悬臂簧片(25),所述各悬臂簧片(25)的另一端与固定圆环(24)相连接,形成三臂悬浮片(10)在固定圆环(24)中的悬浮结构;在所述三臂悬浮片(10)一侧的中央位置处设置敏感元件测量反射镜(9),另一侧安装带有红宝石测球(12)的测杆(11);一测量单元:用于感测敏感元件测量反射镜(9)的位移和二维角度;所述测量单元的光路结构为:激光光源(1)发射出的准直光经过第一分光镜(4)分成两路准直光,其中一路准直光依次经过第一1/4波片(5)和转折反射镜(6)照射在参考反射镜(3)上并原路返回进入第一分光镜(4);另一路准直光依次经过第二1/4波片(7)和第二分光镜(13)照射在测量反射镜(9)上,照在所述测量反射镜(9)上的部分反射光原路返回至第一分光镜(4),所述第一分光镜(4)的输出光束依次经过第三1/4波片(16)和第三分光镜(17)后分成两路,一路进入第四分光镜(20)后再分成两路,分别照在第一光电感测器(18)和第二光电感测器(19)上;另一路进入第五分光镜(23)后同样再被分成两路,分别照在第三光电感测器(21)和第四光电感测器(22)上;由所述第二分光镜(13)将所述测量反射镜(9)的部分反射光转折,并经过透镜(14)照射在四象限光电感测器(15)上。
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