[发明专利]一种双极性反射式飞行时间质量分析器无效
| 申请号： | 201210007412.9 | 申请日： | 2012-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN102568997A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 黄正旭;董俊国;李梅;高伟;李磊;朱辉;周振 | 申请（专利权）人： | 上海大学;广州禾信分析仪器有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/10 | 分类号： | H01J49/10;H01J49/40 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 杨晓松 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种双极性飞行时间质量分析器，包括电离引出区、正离子飞行时间质量分析器、负离子飞行时间质量分析器，其特征在于：所述电离引出区位于正离子飞行时间质量分析器与负离子飞行时间质量分析器的之间；电离引出区及正离子飞行时间质量分析器、负离子飞行时间质量分析器呈“Z”型组合排列，形成反射式结构。不仅增加离子的有效飞行长度，提高了分析器性能，并且使结构更加紧凑合理，大幅提高空间利用率。同时，采用静电聚焦透镜技术提高离子的传输效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 极性 反射 飞行 时间 质量 分析器 | ||
【主权项】：
一种双极性反射式飞行时间质量分析器，包括电离引出区、正离子飞行时间质量分析器、负离子飞行时间质量分析器，其特征在于：所述电离引出区位于正离子飞行时间质量分析器与负离子飞行时间质量分析器的之间；电离引出区及正离子飞行时间质量分析器、负离子飞行时间质量分析器呈“Z”型组合排列，形成反射式结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学;广州禾信分析仪器有限公司，未经上海大学;广州禾信分析仪器有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210007412.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：除去面板之间气泡的装置和方法
- 下一篇：阵列测试装置
