[发明专利]半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法有效

专利信息
申请号: 201210008427.7 申请日: 2012-01-12
公开(公告)号: CN102593886A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 杉村直昭 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: H02J7/00 分类号: H02J7/00;H01M10/42;G01R31/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李浩;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种能够适当地诊断放电部件的功能的半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法。在执行放电电路(51)的平均化切换元件SWn的平均化功能的诊断的情况下,通过初始化动作,变为向比较电路(26)的电容器C1充电信号线Vn的电压与自身阈值电压Vx之差的状态,并且,变为向电容器C2充电信号线Vn-1的电压与自身阈值电压Vx之差的状态。在比较动作中,连接信号线DVn与信号线Lc,向电容器C1、C2输入电压DVn。在不执行平均化处理的情况下,若输出OUT=L电平,则诊断为正常发挥作用,若输出OUT=H电平,则诊断为故障。在执行了平均化处理的情况下,若输出OUT=H电平,则诊断为正常发挥作用,若输出OUT=L电平,则诊断为故障。
搜索关键词: 半导体 电路 电池 监视 系统 诊断 程序 方法
【主权项】:
一种半导体电路,其特征在于,具有比较部件,对包含电阻元件与串联连接到所述电阻元件上的放电用切换元件的放电部件,比较对应于第一信号线的电位与第二信号线的电位的电位差而设定的阈值电压与对应于所述电阻元件与所述放电用切换元件间的电位的电压,所述电阻元件跨跃设置在所述第一信号线和所述第二信号线之间,其中所述第一信号线连接在被串联连接的多个电池各自的高电位侧,所述第二信号线连接在所述多个电池各自的低电位侧。
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