[发明专利]低温测试操作箱有效
| 申请号： | 201210009361.3 | 申请日： | 2012-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN103207822A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 任光明 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，该操作箱包括：箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间；连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述内外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。采用该低温测试操作箱，由于采用具备内端口和外端口的连接器，将测试治具连接到箱体外部，使得操作可以在箱体外部，避免了人手在箱体内低温环境下长期操作；测试时开关箱门动作变少，减少箱内温度泄露。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 测试 操作 | ||
【主权项】：
一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，其特征在于，该操作箱包括：箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间；连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述内外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。
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