[发明专利]一种缺陷区域提取方法无效

专利信息
申请号: 201210010472.6 申请日: 2012-01-13
公开(公告)号: CN102693536A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 吴贵芳 申请(专利权)人: 河南科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 陈浩
地址: 471003 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种缺陷区域提取方法,首先对图像进行列或行的逐步扫描;扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值,则该点为可疑缺陷点;沿扫描方向扩展,分别从上下或左右方向执行边界局部搜索算法,找出上下或左右两个缺陷边界;直到上下或左右边界采到的边界点重合,提取缺陷区域;本方法在提取缺陷的过程中,仅对图像进行一次扫描运算,而且当检测到缺陷第一点之后,扫描过程就更简单,会自动紧紧沿着缺陷区域进行检测,直到缺陷区域被完整提取出来;该检测方法速度快,适用于快速边缘区域定位及实时性要求高的缺陷区域提取。
搜索关键词: 一种 缺陷 区域 提取 方法
【主权项】:
一种缺陷区域提取方法,其特征在于,该方法的步骤如下:(1)对图像进行列或行的逐步扫描;(2)扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值,则该点为可疑缺陷点;(3)沿扫描方向扩展,分别从上下或左右方向执行边界局部搜索算法,找出上下或左右两个缺陷边界;(4)直到上下或左右边界采到的边界点重合,提取缺陷区域。
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