[发明专利]嵌入式多功能统计过程控制装置及方法

摘要

本发明公开一种嵌入式多功能统计过程控制装置及方法，包括处理器、工控主板、操作系统，还包括基础资料模块，数据录入模块，内设有控制限计算器与比较器的数据处理中心，SPC图形生成模块，报警模块；所述基础资料模块至少包含有数据的层次信息、SPC控制基础、质控点及参数的信息；所述控制限计算器对采集到的一定数量和时间段内的数据应用统计过程控制技术检测数据的分布特性，计算出控制限并存贮，所述比较器按SPC控制基础的判异规则将数据与控制限比较。本发明将SPC统计过程控制系统嵌入在嵌入式工业控制设备中的，实现软硬件无缝集成，系统能够快速、精确地完成基于统计原理的各种质量数据分析，适应不同制造系统的特定要求，实现了对产品过程的质量控制。

主权项

嵌入式多功能统计过程控制装置，包括处理器、工控主板、操作系统，其特征在于：还包括：基础资料模块，至少包含有数据的层次信息、SPC控制基础、质控点及参数的信息；数据录入模块，包括手工数据录入模块、文件或数据库导入模块、仪器设备数据采集模块的一种或多种；数据处理中心，内设有控制限计算器与比较器，所述控制限计算器对采集到的一定数量和时间段内的数据应用统计过程控制技术检测数据的分布特性，计算出控制限并存贮，所述比较器按SPC控制基础的判异规则将数据与控制限比较；SPC图形生成模块，将数据在对应层次的控制限图作标示；报警模块，对由数据处理中心检测到异常的数据情况报警。