[发明专利]平面式半导体元件及其制作方法有效
申请号: | 201210013159.8 | 申请日: | 2012-01-16 |
公开(公告)号: | CN102903645A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 徐伟伦;徐竹君;柯泓升 | 申请(专利权)人: | 佳邦科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/58;H01L23/485 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种平面式半导体元件及其制作方法,该平面式半导体元件包括:一由一晶圆所切割的半导体元件,其具有上表面、下表面及多个设于该上、下表面之间的侧面,上表面上具有多个引线区域;一覆盖于该半导体元件的绝缘结构,绝缘结构包括一成型于该上表面上的第一绝缘层、一成型于该下表面上的第二绝缘层及一成型于这些侧面上的第三绝缘层,引线区域裸露于该第一绝缘层;一对应地设于每一该引线区域上的导电焊垫;以及一分别设于半导体元件的两端的端电极,端电极导接于该导电焊垫。本发明的平面式半导体元件可被绝缘结构所完整包覆,故可有效提高元件的可靠度。此外,该平面式半导体元件可提供多个方向的焊接位置,故可提高焊接作业的效率。 | ||
搜索关键词: | 平面 半导体 元件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种平面式半导体元件的制作方法,其特征在于,所述制作方法包含以下步骤:提供一晶圆,所述晶圆上具有多个半导体元件,且所述晶圆的上表面上具有多个对应所述半导体元件的引线区域;进行一第一绝缘覆盖步骤,以于所述晶圆的上表面、下表面分别成型一第一绝缘层及一第二绝缘层,其中所述引线区域裸露于所述第一绝缘层;在每一所述引线区域上成型一导电焊垫;进行一切割步骤,以切割出单一的半导体元件;进行一第二绝缘覆盖步骤,以在每一个切割后的半导体元件的侧面成型一第三绝缘层;以及在每一个切割后的半导体元件的两端分别成型一端电极,所述端电极导接于所述导电焊垫。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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