[发明专利]激光环路光子晶体气室式痕量气体分子浓度测量方法有效

专利信息
申请号: 201210013888.3 申请日: 2012-01-17
公开(公告)号: CN102608043A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 李志全;童凯;王志斌;牛立勇;李文超;孙宇超 申请(专利权)人: 燕山大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 石家庄一诚知识产权事务所 13116 代理人: 李合印
地址: 066004 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种激光环路光子晶体气室式痕量气体分子浓度测量方法,其步骤是:利用可调谐二极管激光器TDL与光源发出的光在PPLN晶体中进行差分,调制成1400—1600nm的可调谐激光,使其通过准直透镜进入光子晶体衰荡腔气室,当腔内光能量满足条件时,即在足够长的衰荡时间内光强度衰减至初始光腔的时,触发控制器通过EOM关断Nd:YAG光源,计算机开始记录衰荡时间,由计算机分别记录空腔衰荡时间和充满气体时的衰荡时间,由此得出被测气体浓度。本发明实现了超低浓度痕量气体的高灵敏度、高精度在线测量,克服谱线交叠和输出不稳定等不足,可以实现复杂环境气体组分分析及高分辨率的光子晶体微腔气室。
搜索关键词: 激光 环路 光子 晶体 气室式 痕量 气体 分子 浓度 测量方法
【主权项】:
1.一种激光环路光子晶体气室式痕量气体分子浓度测量方法,其特征在于:它的步骤是:采用大功率固定波长的Nd:YAG激光器作为光源,采用光子晶体微腔作为循环回路中的气室,以被测气体作为光子晶体介质柱内的介质,光子晶体中心介质KTP折射率通过外加交流电实现调制,以实现禁带数量的增加或减少,使被测气体吸收峰值谱线在光子晶体气室输出的导带范围之内;利用可调谐二极管激光器TDL与光源发出的光在PPLN晶体中进行差分,调制成1400—1600nm的可调谐激光,使其通过准直透镜进入光子晶体衰荡腔气室,当腔内光能量满足条件时,即在足够长的衰荡时间内光强度衰减至初始光腔的时,触发控制器通过EOM关断Nd:YAG光源,计算机开始记录衰荡时间,计算机接收波长计与触发控制器的信号,驱动PZT调整衰荡腔长度,为锁相放大器提供参考信号调制TDL,而Nd:YAG的输出由CM进行调制,从而形成适当方位的Nd:YAG与TDL的准确差分,由计算机分别记录空腔衰荡时间和充满气体时的衰荡时间,由此得出被测气体浓度。
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