[发明专利]一种柱状凸点封装结构无效

专利信息
申请号: 201210014195.6 申请日: 2012-01-17
公开(公告)号: CN102543898A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 丁万春 申请(专利权)人: 南通富士通微电子股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/488
代理公司: 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人: 雷志刚;潘士霖
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种柱状凸点封装结构,包括:包括芯片、凸点下金属层、铜柱、氧化层和焊料凸点;所述芯片的上表面设有焊盘和钝化层,所述钝化层覆于芯片焊盘开口以外的上表面,所述焊盘上设有凸点下金属层,所述凸点下金属层上设有铜柱,所述铜柱的侧面裹有氧化层,所述铜柱的上方设有焊料凸点。本发明提高了焊料凸点的电性能和可靠性,适用于焊盘密间距、输出功能多的芯片级封装。
搜索关键词: 一种 柱状 封装 结构
【主权项】:
一种柱状凸点封装结构,其特征在于:包括芯片、凸点下金属层、铜柱、氧化层和焊料凸点;所述芯片的上表面设有焊盘和钝化层,所述钝化层覆于芯片焊盘开口以外的上表面,所述焊盘上设有凸点下金属层,所述凸点下金属层上设有铜柱,所述铜柱的侧面裹有氧化层,所述铜柱的上方设有焊料凸点。
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