[发明专利]一种高温熔盐同步辐射原位研究装置无效

专利信息
申请号: 201210014460.0 申请日: 2012-01-17
公开(公告)号: CN102590253A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 何上明;李爱国;闫帅;李晓丽;林建波;邹杨;余笑寒 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高温熔盐同步辐射原位研究装置,其包括:一熔盐试管;一真空炉,其内为一腔体,真空炉的炉壁上开设有一入射窗口、一透射窗口和一荧光窗口,其中入射窗口与透射窗口同轴共线设置,荧光窗口的轴线与入射窗口和/或透射窗口的轴线垂直;一加热装置,其设于真空炉的腔体内,用于对设于其内的熔盐试管进行加热,加热装置上设有与入射窗口、透射窗口和荧光窗口分别对应的一入射孔、一透射孔和一荧光孔;一对应入射窗口设于真空炉的外部的第一电离室;一对应透射窗口设于真空炉的外部第二电离室或一CCD探测器;一对应荧光窗口设于真空炉的外部荧光探测器。
搜索关键词: 一种 高温 同步 辐射 原位 研究 装置
【主权项】:
一种高温熔盐同步辐射原位研究装置,其包括:一熔盐试管;一真空炉,其内为一腔体,所述真空炉的炉壁上开设有一入射窗口、一透射窗口和一荧光窗口,其中所述入射窗口与透射窗口同轴共线设置,所述荧光窗口的轴线与入射窗口和/或透射窗口的轴线垂直;一加热装置,其设于所述真空炉的腔体内,用于对设于其内的所述熔盐试管进行加热,所述加热装置上设有与所述入射窗口、透射窗口和荧光窗口分别对应的一入射孔、一透射孔和一荧光孔;一第一电离室,其对应所述入射窗口设于真空炉的外部,一入射X光依次经过第一电离室、入射窗口和入射孔照射在熔盐试管内的试样上;一第二电离室或一CCD探测器,其对应所述透射窗口设于真空炉的外部,用以收集与所述入射X光对应的透射信号;一荧光探测器,其对应所述荧光窗口设于真空炉的外部,用以收集与所述入射X光对应的荧光信号。
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