[发明专利]微透析装置有效
申请号: | 201210014783.X | 申请日: | 2007-10-11 |
公开(公告)号: | CN102553441A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | B·克劳泽;H·戈尔;M·霍尔农;C·克拉夫特 | 申请(专利权)人: | 甘布罗伦迪亚股份有限公司 |
主分类号: | B01D61/00 | 分类号: | B01D61/00;B01D69/08;B01D71/68;C02F1/44;A61M1/18 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 彭立兵;林柏楠 |
地址: | 瑞典*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种半透中空纤维膜,其具有外壁表面、内壁表面和沿其长度延伸的内腔,并且在表面粗糙度小于10nm的外壁表面上具有选择性层。根据本发明所述膜在外壁表面上具有最小的孔尺寸,在纳米级上光滑、连续和均匀的外壁表面,以及4个或5个不同孔尺寸和密度的不同层。此外本发明涉及所述膜的制备方法和用途。 | ||
搜索关键词: | 透析 装置 | ||
【主权项】:
一种微透析装置,其包含用于直接血液应用的传感膜,所述传感膜是这样的半透中空纤维膜,其具有外壁表面、内壁表面和沿其长度延伸的内腔,并且在外壁表面上具有选择性层,所述膜的特征在于在外壁表面上具有最小的孔尺寸,并且其外壁表面在纳米级上光滑、连续和均匀,基本没有粗糙度,粗糙度参数Ra和Rq不大于10nm,所述粗糙度利用原子力显微镜(AFM)测定,并利用下面方程计算粗糙度参数Ra和Rq: R a = 1 N Σ i = 1 N | Z i | R q = 1 N Σ i = 1 N Z i 2 其中N是数据点总数,Zi是数据点在平均图像平面以上的高度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于甘布罗伦迪亚股份有限公司,未经甘布罗伦迪亚股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210014783.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:镍铁粒化处理方法及装置
- 下一篇:椎间盘假体