[发明专利]CMOS图像传感器的像素单元及其制作方法有效
申请号: | 201210014840.4 | 申请日: | 2012-01-17 |
公开(公告)号: | CN102544041A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 曹中祥;吴南健;周杨帆;李全良 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种CMOS图像传感器的像素单元及其制作方法,该像素单元包括单晶硅衬底、在单晶硅衬底内设置的浅槽隔离区、在浅槽隔离区之间设置的转移晶体管和掩埋型感光二极管,其中转移晶体管包含阈值电压调节区,阈值电压调节区位于转移晶体管栅极及其栅介质层下方,且阈值电压调节区所含杂质在沿沟道长度方向上具有不同的浓度分布,在靠近掩埋型感光二极管一侧的阈值调节区的杂质浓度高于在靠近转移晶体管漏极浮空扩散区一侧的阈值电压调节区杂质浓度,在转移晶体管下方沟道处形成一定杂质浓度梯度,从而形成了一定的电势梯度。通过优化像素单元结构和工艺参数,根据本发明的CMOS图像传感器能够有效地消除图像传感器的残像,从而提高成像质量。 | ||
搜索关键词: | cmos 图像传感器 像素 单元 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种CMOS图像传感器的像素单元,包括单晶硅衬底、在该单晶硅衬底内设置的浅槽隔离区、在该浅槽隔离区之间设置的转移晶体管和掩埋型感光二极管,其特征在于,所述转移晶体管包含阈值电压调节区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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