[发明专利]高分辨率光谱仪及其光学定标方法有效
| 申请号： | 201210015050.8 | 申请日： | 2012-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN102538969A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 曾立波;张新民;吴琼水;刘佳 | 申请（专利权）人： | 北京华夏科创仪器技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/433 | 分类号： | G01J3/433 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 闫强 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种高分辨率光谱仪及其光学定标方法，其中高分辨率光谱仪为阿达玛变换光谱仪，按入射光顺序包括光入射口、准直镜、光栅、第一聚焦镜、数字微镜、第二聚焦镜和检测器，在所述第一聚焦镜和所述数字微镜之间设置有棱镜；所述光栅为中阶梯光栅；所述数字微镜为二维数字微镜。本发明光谱仪可应用于光谱分析。 | ||
| 搜索关键词： | 高分辨率 光谱仪 及其 光学 定标 方法 | ||
【主权项】：
高分辨率光谱仪，为阿达玛变换光谱仪，按入射光顺序包括光入射口、准直镜、光栅、第一聚焦镜、数字微镜、第二聚焦镜和检测器，其特征在于：在所述第一聚焦镜和所述数字微镜之间设置有棱镜；所述光栅为中阶梯光栅；所述数字微镜为二维数字微镜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华夏科创仪器技术有限公司，未经北京华夏科创仪器技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210015050.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：阀控真空去毛刺机
- 下一篇：开卷落料线摆剪自润滑装置
