[发明专利]一种SMT网板单点厚度测量方法在审
申请号: | 201210015704.7 | 申请日: | 2012-01-19 |
公开(公告)号: | CN103217112A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 魏志凌;宁军;沈晓 | 申请(专利权)人: | 昆山思拓机器有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215347 江苏省苏州市昆山*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及激光加工技术领域,具体涉及一种网板厚度测量方法。一种SMT网板单点厚度测量方法,测量点在网板幅面上坐标为(x,y),首先通过轴系运动将激光位移传感器移动到测量点位置,开始测量并获取厚度数据,还包括如下步骤:设定表示位置范围的半径r,按照一设定路径,在半径r位置范围,移动激光位移传感器,移动过程中不断测量网板厚度并保存数据,直到激光位移传感器扫描完成回到(x,y)点,最终取获得的复数个厚度数据的平均值以表示测量点位置的厚度。由于采用上述技术方案,本发明用于测量网板厚度是,提高了SMT网板的厚度测量准确性,降低误差。 | ||
搜索关键词: | 一种 smt 单点 厚度 测量方法 | ||
【主权项】:
一种SMT网板单点厚度测量方法,测量点在网板幅面上坐标为(x,y),首先通过轴系运动将激光位移传感器移动到测量点位置,开始测量并获取厚度数据,其特征在于,还包括如下步骤:设定表示位置范围的半径r,按照一设定路径,在半径r位置范围,移动激光位移传感器,移动过程中不断测量网板厚度并保存数据,直到激光位移传感器扫描完成回到(x,y)点,最终取获得的复数个厚度数据的平均值以表示测量点位置的厚度。
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