[发明专利]基于声发射的空蚀检测方法无效
| 申请号： | 201210018026.X | 申请日： | 2012-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN102539539A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 何永勇;沈再阳 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N29/14 | 分类号： | G01N29/14;G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人： | 张良 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于声发射的空蚀检测方法，包括以下步骤：使用声发射传感器采集空蚀发展过程中单位时间长度的声发射信号；对采集的所述声发射信号按照设定层数进行小波分解得到小波系数，并得到所述小波系数所在的频段与空蚀的相关程度，按照所述相关程度和设定层数对所述小波系数去噪；使用去噪后的所述小波系数进行信号重构，得到重构信号；设定所述重构信号的参数估计阈值和计数时间间隔；计算所述重构信号的声发射事件数和声发射事件平均能量；根据所述声发射事件数和所述声发射事件平均能量判断空蚀发展过程中塑性变形和质量损失情况。本发明针对声发射信号的特点去噪，使用简单的估计参数表征空蚀过程中塑性变形和质量损失的发展情况。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 声发 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于声发射的空蚀检测方法，包括以下步骤：使用声发射传感器采集空蚀发展过程中单位时间长度的声发射信号；对采集的所述声发射信号按照设定层数进行小波分解得到小波系数，并得到所述小波系数所在的频段与空蚀的相关程度，按照所述相关程度和设定层数对所述小波系数去噪；使用去噪后的所述小波系数进行信号重构，得到重构信号；设定所述重构信号的参数估计阈值和计数时间间隔；计算所述重构信号的声发射事件数和声发射事件平均能量；根据所述声发射事件数和所述声发射事件平均能量判断空蚀发展过程中塑性变形和质量损失情况。
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