[发明专利]半导体制造装置及半导体基板接合方法无效

专利信息
申请号: 201210018300.3 申请日: 2012-01-19
公开(公告)号: CN102610492A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 谷田一真;本乡悟史;山口直子;高桥健司;沼田英夫 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L27/146
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 刘瑞东;陈海红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供半导体制造装置及半导体基板接合方法。根据实施例的半导体制造装置,具备:第1部件,保持第1半导体基板;第2部件,保持第2半导体基板,使接合面与第1半导体基板的接合面相对向;距离检测单元,检测第1半导体基板的接合面和第2半导体基板的接合面的距离;调节单元,调节第1半导体基板的接合面和第2半导体基板的接合面的距离;第3部件,在第1半导体基板和第2半导体基板之间形成接合开始点。
搜索关键词: 半导体 制造 装置 接合 方法
【主权项】:
一种半导体制造装置,其使具有接合面的第1及第2半导体基板的上述接合面彼此一点接触,形成接合开始点,使上述接合从上述接合开始点向周围扩展,全面接合上述第1半导体基板和上述第2半导体基板,其具备:第1部件,其保持上述第1半导体基板;第2部件,其保持上述第2半导体基板,使上述第2半导体基板的接合面与在上述第1部件保持的上述第1半导体基板的接合面相对向;距离检测单元,其检测在上述第1部件保持的上述第1半导体基板的接合面和在上述第2部件保持的上述第2半导体基板的接合面的距离;调节单元,其根据上述距离检测单元的检测结果,使上述第1及第2部件的至少一方移动,将上述第1半导体基板的接合面和上述第2半导体基板的接合面的距离调节为预定值;和第3部件,其从上述第2部件间隔预定距离而设置,对上述第1及第2半导体基板的一方的与上述接合面相反侧的面的一点加压,在上述第1半导体基板和上述第2半导体基板之间形成上述接合开始点。
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