[发明专利]含金属-硅的薄膜的循环化学气相沉积有效
申请号: | 201210020757.8 | 申请日: | 2007-12-13 |
公开(公告)号: | CN102517561A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 雷新建;H·思里丹达姆;萧满超;H·R·博文;T·R·加夫尼 | 申请(专利权)人: | 气体产品与化学公司 |
主分类号: | C23C16/30 | 分类号: | C23C16/30;C23C16/34;C23C16/42;C23C16/44;C23C16/52 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王伦伟;杨思捷 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种在基底上沉积金属硅氮化物的方法包括:将金属氨化物吸附在热的基底上,吹扫走未吸附的金属氨化物,将具有一个或更多Si-H3片段的含硅源和热的基底接触以和吸附的金属氨化物反应,其中的含硅源具有一个或更多的H3Si-NR02(R0=SiH3、R、R1或R2,下面定义的)基团,这些基团选自于一个或多个的:其中,式中的R和R1代表脂族基团、典型地具有从2到约10个碳原子,例如支链烷基,在分子式A中带有R和R1的环烷基也可被结合到环状基团中,和R2代表单键、(CH2)n、环,或SiH2,和吹扫走未反应的含硅源。 | ||
搜索关键词: | 金属 薄膜 循环 化学 沉积 | ||
【主权项】:
一种在基底上沉积金属硅氮化物的方法,包括:a.将热的基底和金属氨化物接触以将该金属氨化物吸附在该热的基底上,其中该金属氨化物选自四(二甲基氨基)钛(TDMAT)、四(二乙基氨基钛)(TDEAT)、四(乙基甲基氨基)钛(TEMAT)、四(二甲基氨基)锆(TDMAZ)、四(二乙基氨基)锆(TDEAZ)、四(乙基甲基氨基)锆(TEMAZ)、四(二甲基氨基)铪(TDMAH)、四(二乙基氨基)铪(TDEAH)、四(乙基甲基氨基)铪(TEMAH)、叔丁基亚氨基三(二乙基氨基)钽(TBTDET)、叔丁基亚氨基三(二甲基氨基)钽(TBTDMT)、叔丁基亚氨基三(乙基甲基氨基)钽(TBTEMT)、乙基亚氨基三(二乙基氨基)钽(EITDET)、乙基亚氨基三(二甲基氨基)钽(EITDMT)、乙基亚氨基三(乙基甲基氨基)钽(EITEMT)、叔戊基亚氨基三(二甲基氨基)钽(TAIMAT)、叔戊基亚氨基三(二乙基氨基)钽、五(二甲基氨基)钽、叔戊基亚氨基三(乙基甲基氨基)钽、二(叔丁基亚氨基)二(二甲基氨基)钨(BTBMW)、二(叔丁基亚氨基)二(二乙基氨基)钨、二(叔丁基亚氨基)二(乙基甲基氨基)钨和它们的混合物;b.吹扫走任何未吸附的金属氨化物,c.将热的基底与具有一个或更多Si‑H3片段的含硅源接触以和被吸附在基底上的金属氨化物反应,其中的含硅源选自二异丙基氨基硅烷(DIPAS)、二叔丁基氨基硅烷(DTBAS)、二仲丁基氨基硅烷、二叔戊基氨基硅烷和它们的混合物,和d.吹扫走未反应的含硅源。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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