[发明专利]评价电容器工作寿命的方法无效
申请号: | 201210022049.8 | 申请日: | 2012-01-31 |
公开(公告)号: | CN102590660A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 刘文宝 | 申请(专利权)人: | 中国航天标准化研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 史霞 |
地址: | 100071*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供评价电容器工作寿命的方法,包括1)在被评价电容器中抽取一定数量样本,给每只电容器编号后测量并记录被测电容器的电容值,后随机分为若干组;2)取其中一组进行恒温额定电流贮存试验,间隔一定时间取出一批样品测试并记录贮存后的电容值变化,得到恒温额定电流的贮存电容随时间变化曲线;步骤3)在不同电流下进行贮存试验,通过摸底试验确定合适的电流作为加速应力;4)在步骤3)确定的合适的较高电流下进行贮存试验,与步骤2)一样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化,得到高电流下的贮存电容随时间变化的曲线;5)利用曲线拟合验证不同电流下变化趋势是否相同;6)进行数据分析推算出额定电流下器件工作寿命。 | ||
搜索关键词: | 评价 电容器 工作 寿命 方法 | ||
【主权项】:
一种评价电容器工作寿命的方法,包括以下步骤:1)在被评价的电容器组中抽取一定数量的被测电容器,给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值C0,然后再随机分为10组;2)从所述10组电容器中取出第一组电容器在恒温下以额定电流进行贮存试验,间隔一定时间取出L个电容器进行测试并记录恒温下以额定电流贮存后的平均电容值C1,直至全部电容器都取出并测量后为止,计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量ΔC1,得到恒温下以额定电流贮存的电容值随时间变化的工作寿命前期数据曲线;3)从所述10组电容器中取出第二组电容器,在高于额定电流的第二电流下进行贮存试验,间隔一定时间取出m个电容器测试并记录贮存后的平均电容值C2,直至全部电容器都取出并测量后为止,计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量ΔC2,从而获得在第二电流下电容值随时间变化的曲线;如果电容值随时间变化较小,则说明电流应力不明显,在该电流下进行贮存试验,会导致试验周期太长,需要重新选取新的电流应力水平进行试验;提高贮存电流,重新进行上述贮存试验,直至找到合适的电流点记为I1;继续提高贮存电流,重复上述贮存试验;4)分别在多个不同的电流下进行贮存试验,与步骤2)一样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化,得到高电流下的贮存电容随时间变化的曲线;5)利用曲线拟合,验证不同电流下变化趋势是否相同,如果变化趋势一致,则进行以下步骤6),如果变化趋势出现不一致,应停止试验进行分析,查明原因后重新进行试验;6)进行数据分析,推算出恒温下以额定电流贮存的器件寿命。
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