[发明专利]一种具有P/N异质结的半导体激光器芯片的量子阱结构无效

专利信息
申请号: 201210022177.2 申请日: 2012-02-01
公开(公告)号: CN102545059A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 张欣刚;任大为;邱继广;谢镇隆 申请(专利权)人: 华汉晶源(北京)光电技术有限公司
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343
代理公司: 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 代理人: 杨小蓉;杨青
地址: 100080 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种新型的具有P/N异质结的半导体激光器芯片的量子阱结构,所述的量子阱结构沿半导体生长方向有N型磷化铟层、非掺杂的量子阱区域以及P型磷化铟层,其特征在于,所述的N型磷化铟层中引入一层非掺杂的磷化铟层,其厚度为0.1~1微米,该层非掺杂的磷化铟层和非掺杂的量子阱区域之间的N型掺杂的磷化铟层的厚度为0~2微米。本发明的优点主要有三个:1、提升激光器芯片的可靠性,增强数据网路的稳定性;2、降低对芯片生产设备防静电要求,从而降低设备成本于芯片成本;3、降低对于下游的芯片封装厂商的生产环境要求,便于客户降低成本,提高可靠性。
搜索关键词: 一种 具有 异质结 半导体激光器 芯片 量子 结构
【主权项】:
一种具有P/N异质结的半导体激光器芯片的量子阱结构,所述的量子阱结构沿半导体生长方向有N型磷化铟层、非掺杂的量子阱区域以及P型磷化铟层,其特征在于,所述的N型磷化铟层中引入一层非掺杂的磷化铟层,其厚度为0.1~1微米,该层非掺杂的磷化铟层和非掺杂的量子阱区域之间的N型掺杂的磷化铟层的厚度为0~2微米。
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