[发明专利]一种具有梯度型带隙特征的纳米硅窗口层及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210022382.9 申请日: 2012-02-01
公开(公告)号: CN102569481A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 侯国付;倪牮;马峻;刘飞连;张晓丹;赵颖 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01L31/075 分类号: H01L31/075;H01L31/0352;H01L31/20;B82Y40/00;B82Y20/00;C23C16/24;C23C16/50
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种具有梯度型带隙特征的纳米硅窗口层,是在衬底上依次叠加有金属背电极M、透明导电背电极T1、n型硅基薄膜N和本征硅基薄膜I的待处理样品表面沉积形成,由硅薄膜P1、硅薄膜P2和硅薄膜P3依次叠加构成;其制备方法是:在较低的辉光功率下沉积厚度较薄的p型硅薄膜P1,然后逐渐升高功率沉积薄膜P2,最后在较高的功率下完成窗口层P3。本发明的优点是:该纳米硅窗口层用于n-i-p型硅基薄膜太阳电池的窗口层时,既可获得高电导和宽带隙,又能有效地减小太阳电池i/p界面的轰击,还可以实现本征层和窗口层之间的带隙匹配,显著提高太阳电池的填充因子、开路电压和光谱响应,从而得到高光电转换效率的硅基薄膜太阳电池。
搜索关键词: 一种 具有 梯度 型带隙 特征 纳米 窗口 及其 制备 方法
【主权项】:
一种具有梯度型带隙特征的纳米硅窗口层,是在衬底上依次叠加有金属背电极M、透明导电背电极T1、n型硅基薄膜N和本征硅基薄膜I的待处理样品表面沉积的具有梯度型带隙特征的p型纳米硅窗口层,其特征在于:由硅薄膜P1、硅薄膜P2和硅薄膜P3依次叠加构成,其中硅薄膜P1、硅薄膜P2和硅薄膜P3的厚度分别为0.5‑2nm、1‑3nm和5‑30nm,整个纳米硅窗口层的总厚度为10‑50nm、晶粒尺寸为1‑10nm、电导率为0.00001‑5S/cm、激活能为0.01‑0.5eV,带隙宽度为1.8‑2.5eV。
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