[发明专利]一种具有梯度型带隙特征的纳米硅窗口层及其制备方法有效
申请号: | 201210022382.9 | 申请日: | 2012-02-01 |
公开(公告)号: | CN102569481A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 侯国付;倪牮;马峻;刘飞连;张晓丹;赵颖 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | H01L31/075 | 分类号: | H01L31/075;H01L31/0352;H01L31/20;B82Y40/00;B82Y20/00;C23C16/24;C23C16/50 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
地址: | 300071*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种具有梯度型带隙特征的纳米硅窗口层,是在衬底上依次叠加有金属背电极M、透明导电背电极T1、n型硅基薄膜N和本征硅基薄膜I的待处理样品表面沉积形成,由硅薄膜P1、硅薄膜P2和硅薄膜P3依次叠加构成;其制备方法是:在较低的辉光功率下沉积厚度较薄的p型硅薄膜P1,然后逐渐升高功率沉积薄膜P2,最后在较高的功率下完成窗口层P3。本发明的优点是:该纳米硅窗口层用于n-i-p型硅基薄膜太阳电池的窗口层时,既可获得高电导和宽带隙,又能有效地减小太阳电池i/p界面的轰击,还可以实现本征层和窗口层之间的带隙匹配,显著提高太阳电池的填充因子、开路电压和光谱响应,从而得到高光电转换效率的硅基薄膜太阳电池。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 梯度 型带隙 特征 纳米 窗口 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种具有梯度型带隙特征的纳米硅窗口层,是在衬底上依次叠加有金属背电极M、透明导电背电极T1、n型硅基薄膜N和本征硅基薄膜I的待处理样品表面沉积的具有梯度型带隙特征的p型纳米硅窗口层,其特征在于:由硅薄膜P1、硅薄膜P2和硅薄膜P3依次叠加构成,其中硅薄膜P1、硅薄膜P2和硅薄膜P3的厚度分别为0.5‑2nm、1‑3nm和5‑30nm,整个纳米硅窗口层的总厚度为10‑50nm、晶粒尺寸为1‑10nm、电导率为0.00001‑5S/cm、激活能为0.01‑0.5eV,带隙宽度为1.8‑2.5eV。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的