[发明专利]三维测量装置、三维测量方法及程序有效
| 申请号： | 201210022624.4 | 申请日： | 2012-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN102628678A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 木村匠 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种三维测量装置、三维测量方法及程序。该三维测量装置包括：投射单元，包括能够改变照度的照明装置，投射单元利用来自照明装置的光将条纹投射至测量对象，并且改变被投射至测量对象的条纹的相位；成像单元，拍摄其上被投射了条纹的测量对象的图像；以及控制单元，通过使投射单元多次改变被投射至测量对象的条纹的相位以使成像单元拍摄多个图像，从所拍摄的多个图像中提取亮度值，基于所提取的亮度值计算测量对象的三维测量中的错误率，通过改变照明装置的照度来针对各照度计算错误率，并且基于所计算的各照度的错误率来确定用于三维测量测量对象的测量照度。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 装置 测量方法 程序 | ||
【主权项】：
一种三维测量装置，包括：投射单元，包括能够改变照度的照明装置，所述投射单元利用来自所述照明装置的光将条纹投射至测量对象，并且改变被投射至所述测量对象的所述条纹的相位；成像单元，拍摄其上被投射了所述条纹的所述测量对象的图像；以及控制单元，通过使所述投射单元多次改变被投射至所述测量对象的所述条纹的相位以使所述成像单元拍摄多个图像，从所拍摄的所述多个图像中提取亮度值，基于所提取的亮度值计算所述测量对象的三维测量中的错误率，通过改变所述照明装置的照度来针对各照度计算错误率，并且基于所计算的各照度的错误率来确定用于三维测量所述测量对象的测量照度。
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