[发明专利]测试系统及印刷电路板组件的测试方法无效
申请号: | 201210025657.4 | 申请日: | 2012-02-07 |
公开(公告)号: | CN103207366A | 公开(公告)日: | 2013-07-17 |
发明(设计)人: | 刘冠麟;彭国荣 | 申请(专利权)人: | 纬创资通股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种测试系统及印刷电路板组件的测试方法。该测试系统包括一印刷电路板。该印刷电路板包括多条导线及至少一测试点。具有多个第一接脚的一中央处理器插座以及具有多个第二接脚的一存储器模块插槽设置在上述印刷电路板。每一第二接脚经由对应的导线而耦接于中央处理器插座的对应的第一接脚。一中央处理器转接板插入于上述中央处理器插座,而一存储器转接板插入于上述存储器模块插槽。导线经由中央处理器转接板以及存储器转接板形成一测试回路。当一自动测试设备通过测试点提供一测试信号至上述测试回路时,上述自动测试设备根据上述测试信号的一反射结果来判断上述测试回路是否正常。 | ||
搜索关键词: | 测试 系统 印刷 电路板 组件 方法 | ||
【主权项】:
一种测试系统,包括:一待测的印刷电路板组件,包括:一印刷电路板,包括多条导线以及至少一测试点;一中央处理器插座,设置于上述印刷电路板,包括多个第一接脚,以及上述中央处理器插座经由上述第一接脚的一个而耦接于上述测试点;以及一存储器模块插槽,设置于上述印刷电路板,包括多个第二接脚,其中每一上述第二接脚经由对应的上述导线而耦接于上述中央处理器插座的对应的上述第一接脚,其中上述中央处理器插座耦接于上述存储器模块插槽以及上述测试点之间;一中央处理器转接板,插入于上述中央处理器插座;以及一存储器转接板,插入于上述存储器模块插槽,其中上述导线经由上述中央处理器转接板以及上述存储器转接板形成一测试回路;其中当一自动测试设备通过上述测试点提供一测试信号至上述测试回路时,上述自动测试设备根据上述测试信号的一反射结果来判断上述测试回路是否正常。
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