[发明专利]无参考质子共振频率测温法中生成感兴趣区域的方法有效

专利信息
申请号: 201210027547.1 申请日: 2012-02-08
公开(公告)号: CN102568008A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 刘新;戴睿彬;沈欢;邹超;郑海荣 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G06T7/60 分类号: G06T7/60;G01J5/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种无参考质子共振频率测温法中生成感兴趣区域的方法,包括以下步骤:在磁共振图像中获取加热区域,并在所述加热区域周围选择待选区域;对所述待选区域内的图像像素灰度做空间一阶导数和直方图统计;对所述待选区域内的图像像素灰度空间一阶导数做直方图统计;通过对灰度直方图和灰度空间一阶导数直方图的判断来选择对待选区域进行处理的算法,根据选择的算法对待选区域的像素进行处理,并在待选区域内生成感兴趣区域。上述无参考质子共振频率测温法中生成感兴趣区域的方法,通过选择合适的算法对所述待选区域内的像素进行处理,能够快速获得精确的感兴趣区域,从而快速获得精确的温度测量值。
搜索关键词: 参考 质子 共振频率 测温 生成 感兴趣 区域 方法
【主权项】:
一种无参考质子共振频率测温法中生成感兴趣区域的方法,所述无参考质子共振频率测温通过比较磁共振图像的加热区域和感兴趣区域的相位差来计算加热区域的温度值,其特征在于,所述无参考质子共振频率测温法中生成感兴趣区域的方法包括以下步骤:在磁共振图像中获取加热区域,并在所述加热区域周围选择待选区域;对所述待选区域内的图像像素灰度做空间一阶导数和直方图统计;对所述待选区域内的图像像素灰度空间一阶导数做直方图统计;判断所述待选区域图像灰度的直方图是否有对应于相位连续区域和对应于相位突变区域的不同的峰值;如果所述待选区域图像灰度的直方图有对应于所述相位连续区域和对应于所述相位突变区域的不同的峰值,在对应于所述相位连续区述域和对应于所述相位突变区域的不同的峰值之间选择灰度阈值,并将所述待选区域内像素灰度和所述灰度阈值进行比较,根据比较的结果在所述待选区域内生成感兴趣区域,并结束;如果所述待选区域图像灰度的直方图没有对应于所述相位连续区域和对应于所述相位突变区域的不同的峰值,则判断所述待选区域图像像素灰度的空间一阶导数的直方图是否有对应于相位突变区域边缘和对应于非相位突变区域边缘的不同峰值;如果所述待选区域图像像素灰度的空间一阶导数的直方图有对应于所述相位突变区域边缘和对应于所述非相位突变区域边缘的不同峰值,在对应于所述相位突变区域边缘和对应于所述非相位突变区域边缘的不同峰值之间选择导数阈值,并将所述待选区域内像素灰度空间一阶导数大于所述导数阈值的像素作为所述相位突变区域的边缘像素,在所述待选区域内将所述相位突变区域边缘像素所包围的像素去掉,并将所述待选区域剩下的区域作为感兴趣区域;否则,使用模式分类法对所述待选区域内的像素进行处理,并根据处理的结果在所述待选区域内生成感兴趣区域。
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