[发明专利]光酸产生剂、其制备方法及包含光酸产生剂的抗蚀剂组合物有效

专利信息
申请号: 201210028643.8 申请日: 2012-02-07
公开(公告)号: CN102627586A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 吴贞薰;尹队卿;洪容和;赵承德 申请(专利权)人: 锦湖石油化学株式会社
主分类号: C07C309/10 分类号: C07C309/10;C07C303/32;C07C381/12;G03F7/004
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王磊;过晓东
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及光酸产生剂、其制备方法及包含光酸产生剂的抗蚀剂组合物。本发明提供由下式(1)表示的光酸产生剂、制备所述光酸产生剂的方法,以及包含所述光酸产生剂的抗蚀剂组合物:[化学式1]其中在式(1)中,Y、X、R1、R2、n1、n2和A+具有与本发明详述中相同的定义。所述光酸产生剂在ArF浸液式光刻法时可保持合适的接触角,可减少浸液式光刻法过程中出现的缺陷,在抗蚀剂溶剂中具有优异的溶解性,并且与树脂的相容性很好。此外,所述光酸产生剂可使用工业易得的环氧化合物,通过有效且简单的方法进行制备。
搜索关键词: 产生 制备 方法 包含 抗蚀剂 组合
【主权项】:
1.由下式(1)表示的光酸产生剂:[化学式1]其中,在式(1)中,Y表示选自烷基、烯基、烷氧基、环烷基、杂环烷基、芳基和杂芳基中的任一基团;X表示选自亚烷基、亚烯基、NR’、S、O、CO及它们的组合中的任一基团;而R’表示选自氢原子和烷基中的任一基团;R1和R2各自独立地表示选自氢原子、烷基、烷氧基、全氟烷基、全氟烷氧基、卤素、羟基、羧基、氰基、硝基、氨基和硫代基中的任一基团;n1表示1或2的整数;n2表示0-5的整数;并且A+表示有机反荷离子。
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