[发明专利]在电极材料中标记缺陷的缺陷标记装置及方法有效
申请号: | 201210030550.9 | 申请日: | 2012-02-10 |
公开(公告)号: | CN102680485A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 全笔句;李濬燮;崔在铭 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种在用于二次电池的电极材料上标记缺陷的装置和方法,该装置包括:传送单元,以受控制的传送速度提供电极材料;缺陷检测单元,检测连续传送的电极材料上的缺陷;缺陷标记单元,在包括缺陷的缺陷区域上贴附标记标签;和集成控制单元,共同地控制供给单元和缺陷标记单元,由此存在于电极材料上的各种类型的缺陷被检测,且用于提供可视标签的标记标签贴附操作自动执行。 | ||
搜索关键词: | 电极 材料 标记 缺陷 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种缺陷标记装置,用于在用于二次电池的电极材料中标记缺陷,所述缺陷标记装置包括:供给单元,以受控制的供给速度提供所述电极材料;缺陷检测单元,检测连续提供的所述电极材料中的缺陷;缺陷标记单元,在包括所述缺陷的缺陷区域上贴附标记标签;和集成控制单元,共同地控制所述供给单元和所述缺陷标记单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星SDI株式会社,未经三星SDI株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210030550.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。