[发明专利]一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置无效
| 申请号： | 201210031203.8 | 申请日： | 2012-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN102539872A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 朱爱敏;樊斌 | 申请（专利权）人： | 苏州科技学院 |
| 主分类号： | G01R15/22 | 分类号： | G01R15/22;G05B19/042 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 曹毅 |
| 地址： | 215000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，包括一单片机，所述单片机一端连接A/D转换电路，所述A/D转换电路连接数据选择译码电路，所述数据选择译码电路连接56点阵列光反射传感器，所述单片机另一端连接按键、显示电路。该发明用于万用答题卡的生产过程中控制卡生产的质量，检测卡表面对读卡光的反射数据，对卡表面56点同时测量，确保答题卡表面光反射率一致。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 答题 表面光 反射 多点 阵列 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种答题卡表面光反射多点阵列检测装置，其特征在于：包括一单片机（1），所述单片机（1）一端连接A/D转换电路（2），所述A/D转换电路（2）连接数据选择译码电路（3），所述数据选择译码电路（3）连接56点阵列光反射传感器（4），所述单片机（1）另一端连接按键、显示电路（5）。
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