[发明专利]随机噪声源无效
申请号: | 201210031598.1 | 申请日: | 2012-02-13 |
公开(公告)号: | CN102569369A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 张耀辉;黄寓洋;李文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01L29/66 | 分类号: | H01L29/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种随机噪声源,其包括半导体超晶格器件以及封装体。其中,半导体超晶格器件由采用InP衬底上的In0.53Ga0.47As/In0.52Al0.48As材料体系、InP衬底上的InAs/In0.53Ga0.47As/AlAs材料体系、或者GaAs衬底上的GaAs/Al0.45Ga0.55As材料体系的超晶格材料结构通过半导体微加工制作而成。封装体与半导体超晶格器件电性连接以实现随机噪声信号的输出。本发明利用半导体超晶格器件的固态自发混沌振荡特性,通过合理选择势阱/势垒层材料增强量子限制效应,抑制热激发漏电,可以实现工作在室温环境的高质量、高带宽随机噪声源,带宽达GHz以上。 | ||
搜索关键词: | 随机 噪声 | ||
【主权项】:
一种随机噪声源,其特征在于,包括:半导体超晶格器件,由采用InP衬底上的In0.53Ga0.47As/In0.52Al0.48As材料体系、InP衬底上的InAs/In0.53Ga0.47As/AlAs材料体系、或者GaAs衬底上的GaAs/Al0.45Ga0.55As材料体系的超晶格材料结构通过半导体微加工制作而成;以及封装体,与该半导体超晶格器件电性连接以实现随机噪声信号的输出。
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