[发明专利]自动化数组芯片检测装置

摘要

一种自动化数组芯片检测装置，其包含设有待测物前处理区、纯化萃取区、反转录及标定反应区与数组芯片反应及显像区的承载机构；一用以对承载机构进行摇晃的致动机构；一用以对承载机构进行温度控制的温控机构；一具有试剂置放区及磁珠置放区的试剂存放机构；一可取用所需试剂于承载机构上并于承载机构中各区进行相关待测物操作、传送及反应后废液排放的抽取机构；一配合磁珠对待测物进行分离纯化的磁场控制机构；一撷取待测物与数组芯片完成反应及显像后影像处理的影像撷取机构；以及一作为各机构控制、反应影像分析及数据显示的操作机构。藉此，可以自动化机构进行待测物的检测操作，而达到快速检测以及精准度高的功效。

主权项

一种自动化数组芯片检测装置，其特征在于包括有：一承载机构，其端面至少设有一待测物前处理区、一纯化萃取区、一反转录及标定反应区及一数组芯片反应及显像区，用以作为待测物检测时待测物及数组芯片的盛放及反应操作平台；一致动机构，与承载机构连接，用以于检测过程中对承载机构进行摇晃或震动，以提供承载机构内待测物与试剂及数组芯片反应所需的混合效果；一温控机构，与承载机构连接，用以于检测过程中对承载机构进行温度控制；一试剂存放机构，包含有多数试剂置放区及一磁珠置放区，以提供待测物于反应时所需的试剂；一抽取机构，设于承载机构与试剂存放机构之间，以取用所需试剂于承载机构上并于承载机构中各区进行相关待测物的操作、传送及反应后废液的排放；一磁场控制机构，与承载机构连接，以配合磁珠置放区的磁珠对待测物进行纯化；一影像撷取机构，与数组芯片反应及显像区对应，用于撷取待测物与数组芯片进行反应及显像后的影像；以及一操作机构，与承载机构、致动机构、温控机构、试剂存放机构、抽取机构、磁场控制机构及影像撷取机构连接，作为各机构运作时的控制、反应影像分析及数据显示。