[发明专利]元素光谱分析方法及采用该方法的激光元素勘探设备

摘要

本发明属于光谱分析与检测领域，具体涉及一种元素光谱分析方法及采用该方法的激光元素勘探设备。本发明是为了解决目前对元素的原子发射光谱分析方法存在缺陷，以及目前所用激光元素勘探设备上的激光光源强度不够稳定及携带不够方便的技术问题，提供一种元素光谱分析方法及采用该方法的激光元素勘探设备。一种元素光谱分析方法，包括对待测样品的原子发射谱线所进行的定性分析方法和定量分析方法。一种激光元素勘探设备，包括激光光源系统、光谱采集系统、和信号处理模块。本发明公开的元素光谱分析方法克服了之前分析方法存在的缺陷。本发明公开的设备输出的激光能量强度稳定，且其体积小，重量轻，非常适合野外现场作业。

主权项

1.一种元素光谱分析方法，包括对待测样品的原子发射谱线所进行的定性分析方法和采用自由定标法的定量分析方法；其特征在于，所述定性分析方法包括以下步骤：（a）对样品的原子发射谱线求二次微商；（b）对于谱线二次微商后的结果，按照如下规定的阈值判断标准判断微商后的极小值点：只保留二次微商后小于阈值的点，所述标准偏差为谱线二次微商后所得数据的标准偏差；（c）对小于阈值的点，采用三点比较法确定其中的极小值点，该极小值点即对应原谱线的特征峰；（d）将选出的特征峰与NIST原子发射光谱数据库进行比较，对各谱线对应的元素种类进行标定；采用自由定标法的定量分析方法在计算发射谱线的相对强度时采用谱峰面积的积分强度来表示相对强度，在计算峰面积时采用LIBS谱线修正方法修正谱线展宽的影响。