[发明专利]常温下液体折射率光电机械检测仪及其使用方法无效
申请号: | 201210040750.2 | 申请日: | 2012-02-22 |
公开(公告)号: | CN102590140A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 宫爱玲;李鑫 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: |
本发明涉及一种常温下液体折射率光电机械检测仪及其使用方法,属于光学检测领域;检测仪水平支架 |
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搜索关键词: | 常温 液体 折射率 光电 机械 检测 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
1.一种常温下液体折射率光电机械检测仪,其特征在于:检测仪由电源,半导体激光器,法线杆,样品池,角度刻度盘
,竖直支架,水平支架
,水平支架
,水平支架
,角度刻度盘
,PSD光电敏感位置探测器,底座组成;底座通过竖直支架和三个水平支架连接,水平支架
,水平支架
,水平支架
从高到低依次固定,水平支架
连接角度刻度盘
,水平支架
连接角度刻度盘
,法线杆分别与两个角度刻度盘连接,法线杆上端和角度刻度盘
的0度重合,法线杆下端与角度刻度盘
的0度重合,法线杆与两个角度刻度盘共面,半导体激光器一端固定在角度刻度盘
的0角度顶点处,半导体激光器和角度刻度盘
一同转动,水平支架
和样品池连接,样品池的法线刻度线与法线杆重合,PSD光电敏感位置探测器一端与其下方的角度刻度盘
连接,形成一个连动小杆,其转动角度平行于折射光线,另一端与其样品池底部连接,可在样品池底部左右滑动;PSD光电敏感位置探测器与半导体激光器分别和电源相接。
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