[发明专利]方酸单根纳米线和N型硅异质结光电探测器及制备方法有效

专利信息
申请号: 201210041992.3 申请日: 2012-02-23
公开(公告)号: CN102544379A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 张秀娟;秦建丽;张玉萍 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: H01L51/46 分类号: H01L51/46;H01L51/42;H01L51/48
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了方酸单根纳米线和N型硅异质结光电探测器及其制备方法,所述探测器自上而下依次由方酸单根纳米线、金电极、绝缘衬底、N型硅迭置而成,当在两电极之间搭上方酸的单根纳米线时,则构筑出异质结器件,其中N型硅既为电极又为异质结中的N型材料;该器件在暗场、亮场、控温、真空环境下均显示出明显的整流信号,然而当以一定波长范围的单色光照射且施以负压时,出现反向电导增强的现象,原因是光照使得SQ的载流子浓度升高,p-n结变薄,当施加反向偏压的时候,载流子更容易隧穿过结区,出现反向电导升高的现象。本发明结构简单,灵敏度高,成本低,易于实现。
搜索关键词: 方酸单根 纳米 型硅异质结 光电 探测器 制备 方法
【主权项】:
方酸单根纳米线和N型硅异质结光电探测器,其特征在于:所述探测器自上而下依次由方酸单根纳米线(1)、金电极(2)、绝缘衬底(3)、N型硅(4)迭置而成。
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