[发明专利]一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法无效
申请号: | 201210042060.0 | 申请日: | 2012-02-23 |
公开(公告)号: | CN102590254A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 梁琦明;张西军;田英明;孙克斌;郑朋艳;王洁 | 申请(专利权)人: | 中色奥博特铜铝业有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N1/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 252600 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法,属于测定方法,其具体参数要求为:(1)控制试样的表面粗糙度;在车制简单黄铜试样时,采用高速钢车刀,并控制每次进刀量小于0.2mm,使试样的粗糙度达到10μm以下;(2)在X射线荧光光谱仪器上,根据不同元素的被影响程度,计算出以下公式,并应用到仪器的运算中;Cu+Zn+其他元素=100%,Cu+Zn=99.88%,经过测量出的各元素的荧光强度,荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。与现有技术相比,本发明的提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法具有各元素的成分准确,准确度和精确度大大提高,人员的差异性得到减轻等特点,因而具有很好的推广应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 简单 黄铜 射线 荧光 光谱 测定 准确度 方法 | ||
【主权项】:
一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法,其技术参数要求:(1)控制试样的表面粗糙度;在车制简单黄铜试样时,采用高速钢车刀,并控制每次进刀量小于0.2mm,使试样的粗糙度达到10μm以下;(2)在X射线荧光光谱仪器上,根据不同元素的被影响程度,计算出以下公式,并应用到仪器的运算中;Cu+Zn+其他元素=100%,Cu+Zn=99.88%,经过测量出的各元素的荧光强度,荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。
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