[发明专利]一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法无效

专利信息
申请号: 201210042060.0 申请日: 2012-02-23
公开(公告)号: CN102590254A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 梁琦明;张西军;田英明;孙克斌;郑朋艳;王洁 申请(专利权)人: 中色奥博特铜铝业有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N1/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 252600 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法,属于测定方法,其具体参数要求为:(1)控制试样的表面粗糙度;在车制简单黄铜试样时,采用高速钢车刀,并控制每次进刀量小于0.2mm,使试样的粗糙度达到10μm以下;(2)在X射线荧光光谱仪器上,根据不同元素的被影响程度,计算出以下公式,并应用到仪器的运算中;Cu+Zn+其他元素=100%,Cu+Zn=99.88%,经过测量出的各元素的荧光强度,荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。与现有技术相比,本发明的提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法具有各元素的成分准确,准确度和精确度大大提高,人员的差异性得到减轻等特点,因而具有很好的推广应用价值。
搜索关键词: 一种 提高 简单 黄铜 射线 荧光 光谱 测定 准确度 方法
【主权项】:
一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法,其技术参数要求:(1)控制试样的表面粗糙度;在车制简单黄铜试样时,采用高速钢车刀,并控制每次进刀量小于0.2mm,使试样的粗糙度达到10μm以下;(2)在X射线荧光光谱仪器上,根据不同元素的被影响程度,计算出以下公式,并应用到仪器的运算中;Cu+Zn+其他元素=100%,Cu+Zn=99.88%,经过测量出的各元素的荧光强度,荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中色奥博特铜铝业有限公司,未经中色奥博特铜铝业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210042060.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top