[发明专利]用于望远镜的简化检验平台及自检验望远镜有效

专利信息
申请号: 201210044392.2 申请日: 2012-02-23
公开(公告)号: CN102680209B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: G·佩兰;A·利奥塔尔;H·贝纳尔 申请(专利权)人: 泰勒斯公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 法国,塞*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及一种用于望远镜的简化检验平台及自检验望远镜。本发明的一般领域是望远镜类型的光学仪器的光学检验。仪器(100)包括光学物镜(110)、布置在光学物镜的焦点上的光电探测壳体(120)以及布置在所述光电探测壳体附近的至少一个光源(121),光学物镜的光瞳具有第一直径。检验装置主要包括具有小于第一直径的第二直径的平面反射镜(130)以及能够将平面反射镜布置为使得由光学物镜产生的和由所述平面反射镜反射的光源的图像聚焦在光电探测壳体上的装置以及用于分析接收到的所述图像从而能够确定望远镜的光学质量的分析装置。平面反射镜可与自检验平台相关联。其也可构成望远镜的一部分并组合到用于光学组件的保护遮罩(140)中。
搜索关键词: 用于 望远镜 简化 检验 平台
【主权项】:
一种用于望远镜的光学检验平台,所述望远镜(100)包括光学物镜(110)、布置在所述光学物镜的焦点上的光电探测壳体(120)、以及布置在所述光电探测壳体附近的至少一个光源(121),所述光学物镜的光瞳具有第一直径,其特征在于,所述平台包括具有小于所述第一直径的第二直径的平面反射镜(130),以及能够将所述平面反射镜布置为使得由所述光学物镜产生的和由所述平面反射镜反射的所述光源的图像聚焦在所述光电探测壳体上的装置,所述平台包括用于分析接收到的所述图像从而能够确定所述望远镜的光学质量的分析装置。
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