[发明专利]用于测量熔融物质中的参数的测量装置有效
| 申请号： | 201210044486.X | 申请日： | 2012-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN102650550B | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | J·屈佩尔;M·施特雷特曼斯;V·因德赫伯格;M·霍布雷格斯 | 申请（专利权）人： | 贺利氏电子耐特国际股份公司 |
| 主分类号： | G01J5/02 | 分类号： | G01J5/02;B22D2/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人： | 顾红霞,段斌 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量熔融物质中的参数的测量装置，该测量装置尤其用于测量温度，尤其用于测量具有500℃以上的熔点的熔融金属或者熔融晶体(冰晶石)物质中的温度，所述装置具有从熔融物质中接收辐射的光纤并具有包括用于接纳所述光纤的外周部和由所述外周部所包围的内部空间在内的线缆卷筒，其特征在于，在所述内部空间中设置有用于所述光纤的配线器和波模滤波器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 熔融 物质 中的 参数 装置 | ||
【主权项】：
一种测量装置，其用于测量熔融物质中的参数，所述测量装置具有：光纤，其从所述熔融物质中接收辐射；以及线缆卷筒，其包括用于接纳所述光纤的外周部和由所述外周部所包围的内部空间，其特征在于，在所述内部空间中设置有用于所述光纤的配线器和波模滤波器。
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