[发明专利]通用高效多底物检测光子晶体微芯片无效

专利信息
申请号: 201210051957.X 申请日: 2012-03-02
公开(公告)号: CN102680439A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 李风煜;宋延林 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于微纳米材料与光化学分析领域,涉及一种多禁带排列的光子晶体高效通用多底物检测分析微芯片。本发明利用多喷头精细喷墨打印技术与聚丙烯酸-聚丙烯酸甲酯(壳)-聚苯乙烯(核)聚合物纳米小球快速自组装,制备出成阵列排列的光子晶体芯片。芯片具有全带隙的光子晶体阵列设计,可对8-喹啉醇或丹磺酰氯标记的寡聚乙二胺等荧光化学传感器在不同的波长处进行荧光增强与放大,进而实现原本单一、简单化学传感器无法完成的对多底物的可识别检测与分析。本发明通过构建多禁带光子晶体微阵列实现单一化学传感器对多底物的检测与分析,产品对各种复杂环境的多底物识别与检测具有广谱地通用性与很强的可操作性。
搜索关键词: 通用 高效 多底物 检测 光子 晶体 芯片
【主权项】:
本发明是开发了一种通用性的用于高效多底物检测与分析的光子晶体微芯片,其特征是:利用精细喷墨打印与聚合物乳胶微球快速自组装技术,制备成阵列排列的多禁带光子晶体芯片,通过简单旋涂或浸涂将单一荧光化学传感器附着至光子晶体芯片;利用光子晶体光子禁带的高效选择性光调控性与慢光子效应荧光放大效果,对普通传统化学传感器响应性的响应灵敏度与多底物识别度大幅提升;结合多级分组分析(HCA)和线性差别分析(LDA)等统计学方法,实现单一、简单化学传感器对多底物的分析与检测;本发明及其相应的分析方法具有对多底物检测荧光分析的广谱应用性。
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