[发明专利]异物检测装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 201210054297.0 申请日: 2012-03-02
公开(公告)号: CN102654010A 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 宫本学;坂槙良介 申请(专利权)人: 阿斯莫株式会社
主分类号: E05F15/20 分类号: E05F15/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈松涛;王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种异物检测装置的制造方法。在异物检测装置的制造方法中,形成包括连接部分(34)和内周部分的弹性绝缘体(14、30、144),在所述弹性绝缘体(14、30、144)上设置多个电极(18、20、150、152、154、156),使得电极(18、20、150、152、154、156)中的每个都与其它电极分离,去除连接部分(34)的预定部分,馈送构件(72)与电极(18、20、150、152、154、156)耦合,并且以覆盖部分覆盖电极(18、20、150、152、154、156)与馈送构件(72)的耦合部分和弹性绝缘体(14、30、144)的一部分。
搜索关键词: 异物 检测 装置 制造 方法
【主权项】:
一种异物检测装置(10、140)的制造方法,包括:形成包括连接部分(34)和内周部分的弹性绝缘体(14、30、144),在所述弹性绝缘体(14、30、144)上设置多个电极(18、20、150、152、154、156),使得所述多个电极(18、20、150、152、154、156)中的每个电极均与其它电极分离,所述连接部分(34)连接到开口(50)的内周部分与关闭所述开口(50)的门(44)的外周部分中的一个上,来自介入所述门(44)的所述外周部分与所述开口(50)的所述内周部分之间的异物的压力能够使所述弹性绝缘体(14、30、144)发生形变;去除所述连接部分(34)的预定部分;将馈送构件(72)与所述多个电极(18、20、150、152、154、156)耦合,所述馈送构件(72)将电力提供给包括所述弹性绝缘体(14、30、144)和所述多个电极(18、20、150、152、154、156)的压敏传感器(12、142);以及利用覆盖部分覆盖所述多个电极(18、20、150、152、154、156)与所述馈送构件(72)的耦合部分以及所述弹性绝缘体(14、30、144)的一部分。
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