[发明专利]磁共振超欠采样K数据的稀疏化成像方法有效

专利信息
申请号: 201210055787.2 申请日: 2012-03-05
公开(公告)号: CN102579045A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 骆建华;杨刚;厉万庆;朱跃敏 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种磁共振超欠采样K数据稀疏化成像方法,所述方法通过超欠采样K数据重构未采样的K数据来得到完整K数据,以得到最终成像结果,包括以下步骤:(a)选择稀疏化算子,对所述欠采样K数据的补零重构图像进行稀疏化处理得到稀疏化图像;(b)根据所述K空间分布构造的降阶函数从所述稀疏化图像中抽取稀疏化参数;且(c)根据所述K数据的稀疏表达式,利用所述稀疏化参数重构完整K数据,以得到最后图像。
搜索关键词: 磁共振 采样 数据 稀疏 化成 方法
【主权项】:
一种磁共振超欠采样K数据稀疏化成像方法,所述方法通过超欠采样K数据重构未采样的K数据来得到完整K数据,以得到最终成像结果,其特征在于,包括以下步骤:(a)选择稀疏化算子,对所述欠采样K数据的补零重构图像进行稀疏化处理得到稀疏化图像;(b)根据所述K空间分布构造的降阶函数从所述稀疏化图像中抽取稀疏化参数;且(c)根据所述稀疏化K数据的稀疏表达式,利用所述稀疏化参数重构完整K数据,以得到最后图像。
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