[发明专利]小物件测试仪无效
| 申请号： | 201210056502.7 | 申请日： | 2012-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN102589610A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 石志娟;陈军;董宁;戴煦;李波 | 申请（专利权）人： | 深圳市华测检测技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种小物件测试仪，包括圆筒装置、斜坡面实体结构、转轴装置、电磁铁单元和控制单元，圆筒装置内部设置有斜面实体结构，且圆筒装置由两可分离的半圆筒组成，且两半圆筒一侧通过转轴装置连接在一起，另一侧开口处分别安装有控制两半圆筒装置开合的电磁铁单元，电磁铁单元与圆筒装置形成门结构，控制单元位于圆筒装置外部，并与电磁铁单元连接来控制电磁铁单元的极性。本发明通过对传统小物件测试仪的改进，实现了一种可以方便的取出被测试部件的具有门结构的小物件测试仪。 | ||
| 搜索关键词： | 物件 测试仪 | ||
【主权项】：
一种小物件测试仪，其特征在于：包括圆筒装置、斜坡面实体结构、转轴装置、电磁铁单元和控制单元，所述圆筒装置内部设置有所述斜面实体结构，且所述圆筒装置由两可分离的半圆筒组成，且两半圆筒一侧通过转轴装置连接在一起，另一侧开口处分别安装有控制两半圆筒装置开合的电磁铁单元，电磁铁单元与圆筒装置形成门结构，控制单元位于圆筒装置外部，并与所述电磁铁单元连接来控制电磁铁单元的极性。
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