[发明专利]一种蒙脱石杂质含量和种类的检测方法无效
申请号: | 201210056635.4 | 申请日: | 2012-03-06 |
公开(公告)号: | CN102607926A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 张为胜;李诗标;许翠萍;张晶;牛凤菊;冯立娟;周长征 | 申请(专利权)人: | 济南康众医药科技开发有限公司 |
主分类号: | G01N1/34 | 分类号: | G01N1/34;G01N23/20;G01N23/22;G01N5/04 |
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地址: | 250014 山东省济南市*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种药用蒙脱石杂质含量和/或种类的检测方法:取蒙脱石试样,用水分离法或重液分离法,将蒙脱石和杂质充分分离后,干燥后称重,计算杂质的含量;取杂质作粉晶X射线衍射图谱、根据X射线衍射的特征峰,判断试样中存在的矿物种类;偏光显微镜法、相差显微镜法、扫描电镜法或透射电镜法中的一种方法确认杂质的晶体形态。本发明方法简单,能准确测得蒙脱石中杂质的含量及其种类,解决了目前蒙脱石中杂质含量检查方法不准确的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 蒙脱石 杂质 含量 种类 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种药用蒙脱石杂质含量和/或种类的检测方法:取蒙脱石试样,用水分离法或重液分离法,将蒙脱石和杂质充分分离后,干燥后称重,计算杂质的含量;取杂质作粉晶X射线衍射图谱、根据X射线衍射的特征峰,判断试样中存在的矿物种类;偏光显微镜法、相差显微镜法、扫描电镜法或透射电镜法中的一种方法确认杂质的晶体形态。
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