[发明专利]红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法无效
申请号: | 201210057116.X | 申请日: | 2012-02-29 |
公开(公告)号: | CN102589707A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 赖睿;张智杰;杨银堂 | 申请(专利权)人: | 华中光电技术研究所中国船舶重工集团公司第七一七研究所 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430070 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种红外焦平面阵列(IRFPA)探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法,针对IRFPA探测器非均匀性响应的校正输出对残差抑制的要求,引入加权的均匀背景校正残差以补偿实际场景的校正误差,将辐射源定标校正与残差对消方法相结合,抑制了IRFPA探测器的残余非均匀性,有效降低了校正后响应值与实际场景辐照值之间的偏差,并使得IRFPA探测器的温度分辨率得以提升。 | ||
搜索关键词: | 红外 平面 阵列 探测器 均匀 校正 实时 补偿 方法 | ||
【主权项】:
一种红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法,基于参考辐射源定标与残差对消,其特征在于包括如下步骤:(1)利用IRFPA探测器采集黑体辐射源在响应动态范围内任一温度点的辐射响应F(Φ0);(2)将成像系统快门关闭,利用IRFPA探测器采集均匀背景辐射的响应输出F(Φ1);(3)以黑体辐射F(Φ0)为参考值对均匀背景辐射进行一点定标校正,得到校正结果F′(Φ1);(4)将成像系统快门打开,利用IRFPA探测器采集实际场景辐射的响应输出F(Φ2);(5)以均匀背景辐射响应输出F(Φ1)为参考值对实际场景辐射进行一点定标校正,得到校正结果F′(Φ2);(6)用F′(Φ2)减除加权后的F′(Φ1),以实现残余非均匀性的对消并得到最终的校正残差补偿结果F″(Φ2);(7)对IRFPA探测器采集的后续实际场景辐射响应F(Φn)重复执行步骤(5)和步骤(6),得到校正残差补偿后的输出F″(Φn)。
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