[发明专利]一种并行共焦检测系统及方法无效
申请号: | 201210057590.2 | 申请日: | 2012-03-06 |
公开(公告)号: | CN102589471A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 张运波;杨召雷;句爱松;彭博方;董洪波;胡凯;侯文玫 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明揭示了一种并行共焦检测系统及方法,所述系统包括单色LED光源、数字微镜、两个透镜、分光棱镜、电控可变焦透镜、探测针孔、光强探测器、电压控制器、PC。单色LED光源发出的光通过经过集光镜照射到数字微镜表面,光源被数字微镜调制后形成针孔阵列,再通过透镜变为平行光束聚焦的被测物表面,被测物反射的光入射到光强阵列探测器上,通过PC记录光强度,通过数字微镜器件实现对样品的横向或轴向扫描。通过PC控制加到电控可变焦透镜上的电压,使可变焦透镜的焦距改变一个微小的值Δf,此时再记录探测器上的光强数值;根据扫描后得到的光强值,得到被测物对应点的轴向的位置;对整个被测物表面轮廓的测量。本发明可提高系统的稳定性及扫描速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 并行 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种并行共焦检测系统,其特征在于,所述系统包括:单色LED光源、数字微镜、两个透镜、分光棱镜、电控可变焦透镜、探测针孔、光强探测器、电压控制器、PC;单色LED光源发出的光通过经过集光镜照射到数字微镜表面,光源被数字微镜调制后形成针孔阵列,再通过透镜变为平行光束,通过无偏振分光棱镜、电控可变焦透镜、聚焦的被测物表面,被测物反射的光经电控可变焦透镜、分光棱镜、透镜探测针孔,入射到光强阵列探测器上,通过PC记录光强度,通过数字微镜器件实现对样品的横向或轴向扫描;然后通过PC控制加到电控可变焦透镜上的电压,从而使可变焦透镜的焦距改变一个微小的值Δf,此时再记录探测器上的光强数值;根据扫描后得到的光强值,得到被测物对应点的轴向的位置;实现整个被测物表面的轴向扫描,从而可以对整个被测物表面轮廓的测量。
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