[发明专利]一种并行共焦检测系统及方法无效

专利信息
申请号: 201210057590.2 申请日: 2012-03-06
公开(公告)号: CN102589471A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 张运波;杨召雷;句爱松;彭博方;董洪波;胡凯;侯文玫 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种并行共焦检测系统及方法,所述系统包括单色LED光源、数字微镜、两个透镜、分光棱镜、电控可变焦透镜、探测针孔、光强探测器、电压控制器、PC。单色LED光源发出的光通过经过集光镜照射到数字微镜表面,光源被数字微镜调制后形成针孔阵列,再通过透镜变为平行光束聚焦的被测物表面,被测物反射的光入射到光强阵列探测器上,通过PC记录光强度,通过数字微镜器件实现对样品的横向或轴向扫描。通过PC控制加到电控可变焦透镜上的电压,使可变焦透镜的焦距改变一个微小的值Δf,此时再记录探测器上的光强数值;根据扫描后得到的光强值,得到被测物对应点的轴向的位置;对整个被测物表面轮廓的测量。本发明可提高系统的稳定性及扫描速度。
搜索关键词: 一种 并行 检测 系统 方法
【主权项】:
一种并行共焦检测系统,其特征在于,所述系统包括:单色LED光源、数字微镜、两个透镜、分光棱镜、电控可变焦透镜、探测针孔、光强探测器、电压控制器、PC;单色LED光源发出的光通过经过集光镜照射到数字微镜表面,光源被数字微镜调制后形成针孔阵列,再通过透镜变为平行光束,通过无偏振分光棱镜、电控可变焦透镜、聚焦的被测物表面,被测物反射的光经电控可变焦透镜、分光棱镜、透镜探测针孔,入射到光强阵列探测器上,通过PC记录光强度,通过数字微镜器件实现对样品的横向或轴向扫描;然后通过PC控制加到电控可变焦透镜上的电压,从而使可变焦透镜的焦距改变一个微小的值Δf,此时再记录探测器上的光强数值;根据扫描后得到的光强值,得到被测物对应点的轴向的位置;实现整个被测物表面的轴向扫描,从而可以对整个被测物表面轮廓的测量。
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