[发明专利]调试电路无效
| 申请号： | 201210058076.0 | 申请日： | 2012-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN103308842A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 黄发生 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种调试电路，包括若干具有不同电阻值的电阻、若干具有不同电容值的电容、与电阻相同数量的第一开关、与电容相同数量的第二开关、一第三开关、一第一连接端、一第二连接端及一第三连接端。当所述第一连接端及第二连接端与待调试电路相连且第三开关断开时，通过控制若干第一开关的状态将具有不同电阻值的电阻接入待调试电路；当所述第二连接端及第三连接端与待调试电路相连且第三开关闭合时，通过控制若干第二开关的状态将具有不同电容值的电容接入待调试电路。上述调试电路通过控制开关的状态以及第一至第三连接端的连接关系，可方便的实现改变主板上的电阻或电容来对主板进行调试。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 电路 | ||
【主权项】：
一种调试电路，包括若干具有不同电阻值的电阻、若干具有不同电容值的电容、与电阻相同数量的第一开关、与电容相同数量的第二开关、一第三开关、一第一连接端、一第二连接端及一第三连接端，每一电阻的第一端均与第一连接端相连，每一电阻的第二端连接一对应第一开关的第一端，每一第一开关的第二端均与第二连接端相连，还均与第三开关的第一端相连，所述第三开关的第二端与所述若干电容的第一端相连，每一电容的第二端连接一对应第二开关的第一端，所述若干第二开关的第二端均与第三连接端相连；当所述第一连接端及第二连接端与待调试电路相连且第三开关断开时，通过控制若干第一开关的状态将具有不同电阻值的电阻接入待调试电路；当所述第二连接端及第三连接端与待调试电路相连且第三开关闭合时，通过控制若干第二开关的状态将具有不同电容值的电容接入待调试电路。
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