[发明专利]一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统无效
| 申请号： | 201210059124.8 | 申请日： | 2012-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN102608520A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 王茂海 | 申请（专利权）人： | 无锡华大国奇科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州裕阳专利事务所(普通合伙) 33221 | 代理人： | 应圣义 |
| 地址： | 214062 江苏省无锡市滨湖*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 usb iic 协议 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于：包括上位机、测试板、IIC总线；所述的上位机通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。
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