[发明专利]谐振式加速度计谐振梁和支撑梁的二步腐蚀制造方法有效
申请号: | 201210059372.2 | 申请日: | 2012-03-01 |
公开(公告)号: | CN102602879A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 韩建强;李森林;李青;冯日盛;李琰 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00;G01P15/097 |
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地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种谐振式加速度计谐振梁和支撑梁的二步腐蚀制造方法,属于微电子机械系统领域。本发明的目的在于在同一硅片(3)上制作出不在同一平面的谐振梁(1)和支撑梁(2),谐振梁(1)位于衬底上表面,支撑梁(2)的中性面与质量块(4)的重心在同一平面。在制作技术方面的特征在于:首先采用有掩膜腐蚀工艺从谐振梁(1)背面腐蚀到一定深度;然后正反两面光刻,腐蚀或刻蚀腐蚀槽(6)除谐振梁(1)和质量块(4)凸角补偿部分以外的腐蚀掩蔽层(7);最后,采用掩膜和无掩膜腐蚀相结合实现谐振梁(1)和支撑梁(2)的一次成型,谐振梁(1)和支撑梁(2)的厚度同时达到设定值。本制造方法使制作的谐振式加速度计结构简单,具有较小的交叉轴干扰。 | ||
搜索关键词: | 谐振 加速度计 支撑 腐蚀 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种谐振式加速度计谐振梁和支撑梁的二步腐蚀制造方法,其特征在于:谐振式加速度计的谐振梁(1)和支撑梁(2)通过各向异性湿法腐蚀工艺二步腐蚀实现一次成型,首先,采用有掩膜腐蚀工艺从谐振梁(1)背面腐蚀到一定深度;然后正面光刻,湿法腐蚀或干法刻蚀硅片(3)正面腐蚀槽(6)中除谐振梁(1)部分和质量块(4)凸角补偿部分以外的腐蚀掩蔽层(7);再次,反面光刻,湿法腐蚀或干法刻蚀硅片(3)背面腐蚀槽(6)中除质量块(4)凸角补偿部分以外的腐蚀掩蔽层(7);最后,有掩膜腐蚀和无掩膜腐蚀相结合实现谐振梁(1)和支撑梁(2)的一次成型,谐振梁(1)位于衬底上表面,支撑梁(2)的中性面与质量块(4)的重心在同一平面。
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