[发明专利]一种石墨烯修饰的Pt电极及检测痕量重金属的方法有效

专利信息
申请号: 201210059601.0 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN102621199A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 金庆辉;唐逢杰;丁古巧;张洹千;张凤;谢晓明;赵建龙 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30;G01N27/48
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 潘振甦
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种石墨烯修饰的铂电极,所述的铂电极是以在硅片上氧化生成二氧化硅层为基体,然后在二氧化硅基体上蒸镀金属铂电极,最后在铂电极上生长石墨烯,构成石墨烯修饰铂电极。采用溶出伏安法,利用MEMS工艺制作的石墨烯修饰的铂电极为工作电极,以Ag/AgCl电极作参考比电极,铂丝电极作为对电极,包括前处理、富集时间和电位设置及溶出伏安法的参数选择,检测出重金属极限值0.05mg/L,且提供的G/Pt电极比裸Pt电极具有明显的高的检测灵敏度。
搜索关键词: 一种 石墨 修饰 pt 电极 检测 痕量 重金属 方法
【主权项】:
一种石墨烯修饰的铂电极,其特征在于以在硅片上氧化生成二氧化硅层为基体,然后在二氧化硅基体上蒸镀金属铂电极,最后在铂电极上生长石墨烯,构成石墨烯修饰铂电极。
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