[发明专利]一种提高直拉硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法有效
申请号: | 201210059757.9 | 申请日: | 2012-03-08 |
公开(公告)号: | CN102586862A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 菅瑞娟;张雪囡;李建宏;李亚哲;刘一波;宋都明 | 申请(专利权)人: | 天津市环欧半导体材料技术有限公司 |
主分类号: | C30B15/00 | 分类号: | C30B15/00;C30B15/04;C30B15/20;C30B29/06 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
地址: | 300384 天津市西*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种提高直拉硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法,其特征在于,通过在单晶炉外部安装行波磁场发生器,在拉晶过程中向硅熔体施加行波磁场;所述行波磁场发生器采用圆筒型发生器,圆筒型发生器产生的圆筒型行波磁场使硅熔体的对流具有轴对称性,行波磁场N极和S极的间距为1~50cm,磁场的最大强度为400~800Gauss,磁场速度为1~4cm/s;通过磁场作用,促进同一水平高度的硅熔体对流,稳定硅熔体对流形状和强度,通过调整对流路径和增加对流强度,最终使掺杂剂在硅熔体中的分布更佳均匀,有效促进硅熔体的对流,抑制高浓度掺杂剂的向下沉积问题,提高直拉重掺硅单晶的径向电阻率均匀性。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 直拉硅单晶 电阻率 均匀 行波 磁场 | ||
【主权项】:
一种提高直拉硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法,其特征在于,通过在单晶炉外部安装行波磁场发生器,在拉晶过程中向硅熔体施加行波磁场;所述行波磁场发生器采用圆筒型发生器,圆筒型发生器产生的圆筒型行波磁场使硅熔体的对流具有轴对称性,行波磁场N极和S极的间距为1~50cm,磁场的最大强度为400~800Gauss,磁场速度为1~4cm/s;通过磁场作用,促进同一水平高度的硅熔体对流,稳定硅熔体对流形状和强度,通过调整对流路径和增加对流强度,最终使掺杂剂在硅熔体中的分布更佳均匀,有效提高掺杂剂的均匀性,所述的掺杂剂,可以是硼、磷、砷或锑,旋转磁场主要所述方法包括如下步骤:通过在单晶炉外部安装行波磁场发生器,在拉晶过程中向硅熔体施加行波磁场;将石英坩埚放入石墨坩埚中,多晶硅物料装入石英坩埚内,换好要求的籽晶,关闭炉体,抽真空后加热升温将多晶硅全部熔化,之后将掺杂剂装入掺杂罩内,下降掺杂罩至硅熔体上方,高温使固态As转变为液态或气态而掺入硅熔体中;将掺杂剂掺入硅熔体后,开启行波磁场,促进硅熔体的对流防止高浓度掺杂剂的向下沉积,使掺杂剂的分布更佳均匀,调整埚转为2r/min、晶转为8r/min;降籽晶至熔体液面处充分接触并缓慢降低温度,当隐约看见苞时说明温度适当,这时调整夹头拉速在6mm/min到7.6mm/min之间进行引晶,直径保持在6±0.3mm,同时引晶为“葫芦状”以排出边缘的位错;降低夹头拉速至0.1‑0.2mm/min进行缓慢扩肩,当肩部直径增大到190mm左右时,肩部高度大约为350‑450mm,此时提高拉至2mm/min进行转肩,完成转肩后,以2mm/min的拉速使晶体等径生长,同时设定埚跟比为1:0.2,稳定20mm后转为自动控制;最后在剩余硅熔体不多时升温3℃同时保持拉速不变进行收尾,尾部收尖且长度≥180mm,最后形成倒圆锥状的尾部以留出足够的反位错余量,关闭行波磁场,等晶体冷却后即可将晶体取出;根据上述步骤制备获得的直拉重掺硅单晶的径向电阻率均匀性达到RRV<10%。
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