[发明专利]基于布里渊动态光栅的分布式保偏光纤双折射测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 201210059817.7 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN102589857A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 董永康;吕志伟 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张果瑞
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于布里渊动态光栅的分布式保偏光纤双折射测量方法及装置,属于光学领域,本发明为解决现有测量保偏光纤双折射技术测量时间非常长,长距离和高空间分辨率不能同时满足的问题。本发明方法:在待测保偏光纤的一端入射泵浦脉冲光,并跟随入射探测脉冲光,在待测保偏光纤的另一端入射连续泵浦光,连续泵浦光与泵浦脉冲光入射至同一个光学主轴上,探测脉冲光入射至另一个光学主轴,连续泵浦光与泵浦脉冲光在待测保偏光纤内相遇并发生受激布里渊散射产生布里渊动态光栅;探测脉冲光被光栅反射,多次注入泵浦脉冲光和不同频率的探测脉冲光,获取不同频率时的待测保偏光纤每个位置点的反射光强,进而获取待测保偏光纤每个位置点的双折射。
搜索关键词: 基于 布里渊 动态 光栅 分布式 偏光 双折射 测量方法 装置
【主权项】:
基于布里渊动态光栅的分布式保偏光纤双折射测量方法,在待测保偏光纤的一端入射泵浦脉冲光,并跟随入射探测脉冲光,所述泵浦脉冲光入射至待测保偏光纤的一个光学主轴,所述探测脉冲光入射至待测保偏光纤的另一个光学主轴,其特征在于,在待测保偏光纤的另一端入射连续泵浦光,所述连续泵浦光与所述泵浦脉冲光入射至同一个光学主轴上,所述连续泵浦光与所述泵浦脉冲光在待测保偏光纤内相遇并发生受激布里渊散射产生布里渊动态光栅;所述探测脉冲光被布里渊动态光栅反射,获取待测保偏光纤每个位置点的反射光强,多次注入泵浦脉冲光和不同频率的探测脉冲光,获取不同频率的探测脉冲光入射时的待测保偏光纤每个位置点的反射光强,进而获取所述待测保偏光纤每个位置点的布里渊反射光谱,进而获取所述待测保偏光纤每个位置点的双折射。
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