[发明专利]基于谱峰突出指数的谱峰个数识别方法有效

专利信息
申请号: 201210064357.7 申请日: 2012-03-13
公开(公告)号: CN102624661A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 张涛;刘婧睆;唐万斌;程郁凡 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H04L27/00 分类号: H04L27/00
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 李明光
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供基于谱峰突出指数的谱峰个数识别方法,通过对数据信号的离散谱进行谱峰突出指数的运算,得出了数据信号离散谱中突出谱线的条数,避免了人为的寻找数据信号突出谱线的条数和突出谱线判决门限的复杂计算,只要知道谱峰个数就能确定谱峰所在范围,提高了谱峰识别的效率,使得谱峰识别更智能化。
搜索关键词: 基于 突出 指数 个数 识别 方法
【主权项】:
基于谱峰突出指数的谱峰个数识别方法,其特征在于,包括以下步骤:A.在数据信号离散谱谱线中查出所有谱线值比左右相邻谱线值大的谱线作为待测谱线,组成待测谱线群;B.将待测谱线群中的谱线按谱线值从大到小进行排序;C.确定多个不同待选值n,n为正整数,进行各待选值n对应的谱峰突出指数的计算;所述谱峰突出指数计算为:先对排序后的待测谱线群中前n个谱线的谱线值求和得到第一求和结果,再对待测谱线群中还未进行求和运算的前n个谱线的谱线值求和得到第二求和结果;第一求和结果除以第二求和结果得到当前计算的待选值n对应的谱峰突出指数;D.选择最大的谱峰突出指数对应的待选值n为数据信号离散谱谱峰个数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210064357.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top