[发明专利]一种电子产品测试夹具的自动对准方法有效
| 申请号： | 201210070312.0 | 申请日： | 2012-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN102590566A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 李二文 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区世纪福科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 陶海锋 |
| 地址： | 215122 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子产品测试夹具的自动对准方法，其特征在于，包括下列步骤：(1)提供一校准板，校准板上对应于待测产品测试点的位置设置有凸起；(2)将所述校准板移动到探针模块的上方或下方，利用光学传感系统检测凸起与探针的相对位置，调整校准板使所述凸起对准探针，获得校准板的第一位置；(3)移动所述校准板至第二位置，测量并记录校准板上各凸起的位置；(4)将待测产品移至所述第二位置，用位置测量系统测量待测产品上各测量点的位置，并和凸起的位置进行比较，获得校正量，移动待测产品至第一位置，实现待测产品与测试夹具的自动对准。本发明解决了测试夹具的对位精度问题，特别适于小测试点的电子产品的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 测试 夹具 自动 对准 方法 | ||
【主权项】：
一种电子产品测试夹具的自动对准方法，其特征在于，包括下列步骤：(1)提供一与待测产品（29）匹配的校准板（8），在所述校准板（8）上对应于待测产品（29）测试点（30）的位置设置有横截面与测试点形状大小相同的凸起（11）；(2)将所述校准板（8）移动到测试夹具的探针模块(10)的上方或下方，利用光学传感系统检测校准板上的凸起（11）与测试夹具的探针（9）的相对位置，调整校准板（8）相对于测试夹具的位置和方向，使所述凸起(11)对准探针(9)，获得校准板(8)的第一位置；(3)移动所述校准板(8)至第二位置，由一位置测量系统测量并记录校准板上各凸起(11)的位置，然后移去校准板（8）；(4)将待测产品(29)移至所述第二位置，用所述位置测量系统测量待测产品(29)上各测量点(30)的位置，并和记录的校准板上对应的凸起(11)的位置进行比较，获得平移和旋转的校正量，采用该校正量对第二位置至第一位置的移动距离和方向进行校正后，移动待测产品(29)至第一位置，实现待测产品(29)与测试夹具的自动对准。
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