[发明专利]一种梁膜四岛结构微压高过载传感器芯片有效

专利信息
申请号: 201210071278.9 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN102636298A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 赵玉龙;于忠亮;孟夏薇;刘岩;张学锋;田边 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贺建斌
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种梁膜四岛结构微压高过载传感器芯片,包括硅基底,硅基底上加工有四个质量块、四根单梁及十字梁,质量块通过单梁与硅基底连接,质量块之间通过十字梁连接,将硅基底、质量块、单梁及十字梁围成的空间加工成薄膜,硅基底背面与Pyrex7740玻璃键合,将质量块的背面减薄,使质量块与Pyrex7740玻璃之间留有间隙,同时将Pyrex7740玻璃上的四个防吸附电极插入键合区域,将薄膜、质量块和Pyrex7740玻璃之间形成的腔体抽真空,在硅基底的正面,四个压敏电阻条相互连接组成半开环惠斯通电桥,四根单梁及十字梁的引入提高了整体刚度,再次集中了应力,具有高灵敏度,高线性度的特点,同时可以抗500倍的高过载。
搜索关键词: 一种 梁膜四岛 结构 微压高 过载 传感器 芯片
【主权项】:
一种梁膜四岛结构微压高过载传感器芯片,包括硅基底(1),其特征在于:硅基底(1)上加工有四个质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)、四根单梁(3‑1)、(3‑2)、(3‑3)、(3‑4)及十字梁(3‑5),质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)通过四根单梁(3‑1)、(3‑2)、(3‑3)、(3‑4)与硅基底(1)连接,质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)之间通过十字梁(3‑5)连接,将硅基底(1)、质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)、四根单梁(3‑1)、(3‑2)、(3‑3)、(3‑4)及十字梁(3‑5)围成的空间加工成10~30μm薄膜(2),硅基底(1)的背面与Pyrex7740玻璃(5)键合,将质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)的背面减薄,使质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)与Pyrex7740玻璃(5)之间在真空环境下留有5~10μm的间隙,同时将Pyrex7740玻璃(5)上的防吸附电极(9‑1)、(9‑2)、(9‑3)、(9‑4)插入键合区域(10),将薄膜(2)、质量块(4‑1)、(4‑2)、(4‑3)、(4‑4)和Pyrex7740玻璃(5)之间形成的腔体抽真空,在硅基底(1)的正面,四个压敏电阻条(6‑1)、(6‑2)、(6‑3)、(6‑4)按照四根单梁(3‑1)、(3‑2)、(3‑3)、(3‑4)上的应力分布规律均布置在靠近其根部处,且沿着压阻系数最大的两晶向,四个压敏电阻条(6‑1)、(6‑2)、(6‑3)、(6‑4)通过硅基底(1)上的金属引线(8)相互连接组成半开环惠斯通电桥,电桥的输出端与硅基底(1)上的焊盘(7)相连。
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